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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應(yīng)度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計標(biāo)準(zhǔn)燈參考輻射定標(biāo) 電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

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ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS

●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進行分子量測量的檢測裝置。 ●適用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。

更新時間：2025-06-24

產(chǎn)品型號：

瀏覽量：486
OPTM series 嵌入型

利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。

更新時間：2025-06-24

產(chǎn)品型號：

瀏覽量：423
Load Port對應(yīng)膜厚測量系統(tǒng) GS-300

●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成 ●實現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊 ●支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求 ●支持槽口對齊功能 ●小尺寸規(guī)格 ●高精度自動校準(zhǔn)單元

更新時間：2025-06-24

產(chǎn)品型號：

瀏覽量：491
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀

半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術(shù)，通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。

更新時間：2025-06-24

產(chǎn)品型號：

瀏覽量：7776
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)

ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。

更新時間：2025-06-24

產(chǎn)品型號：ELSZ-2000系列

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光電流測試

光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。

更新時間：2025-06-24

產(chǎn)品型號：S-LBIC

瀏覽量：1989

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