高速相位差測量裝置 RE-200

產(chǎn)品簡介
● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理）
● 無驅(qū)動部，重復再現(xiàn)性高
● 設(shè)置的測量項目少，測量簡單
● 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
● Rth測量、全quan方位角測量
（需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
● 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統(tǒng)屬特注。）

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-06-24

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應(yīng)度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

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產(chǎn)品信息

測量項目

● 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
● 主軸方位角（θ[deg.]）
● 橢圓率（ε）?方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）

用　途

● 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
● 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）

原　理

● 什么是RE-200
● RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

高速相位差測量裝置 RE-200
執(zhí)行擬合/傅立葉變換以計算橢圓度 ε 和方位角 γ。

高速相位差測量裝置 RE-200

規(guī) 格

型號	RE series
樣品尺寸	最小10×10mm ～最大100×100mm
測量波長	550nm （標準仕樣）※1
相位差測量范圍	約0nm ～約1μm
軸檢出重復精度	0.05°（at 3σ） ※2
檢出器	偏光計測模塊
測量光斑直徑	2.2mm×2.2mm
光源	100W 鹵素燈或 LED光源
本體?重量	300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg