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產(chǎn)品中心半導體材料測試深能級瞬態(tài)譜測試深能級瞬態(tài)譜測試儀
產(chǎn)品簡介
深能級瞬態(tài)譜儀(DLTS)是檢測半導體材料和器件缺陷和雜質(zhì)的最好技術(shù)手段，它可以測定各種深能級相關參數(shù)，如深能級，俘獲界面，濃度分布等。
產(chǎn)品分類
High sensitivity 高靈敏度
C-V characterization 深能級C-V測試
Capture cross section measurement 俘獲界面測試
Optical injection 光注入
Conductance transient measurements 瞬態(tài)電導測試
Sample quality test by I-V, C-V I-V/C-V 基礎測試
Cryostats LN2,低溫致冷
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
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