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產(chǎn)品中心半導體材料測試霍爾電阻遷移率LEIModel1605非接觸遷移率測試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
LEIModel1605，是非接觸遷移率測試系統(tǒng)，可對各種半導體材料和器件結構進行測試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。
產(chǎn)品分類
快速，非破壞
霍爾遷移率
方塊電阻
提高測試的重復性
與VDP法測試保持一致
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
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